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Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

產(chǎn)品時間:2024-05-29

訪問次數(shù):3178

簡要描述:

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀:
是一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

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Zeta100電位納米粒度分子量分析儀:
是一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

Zeta電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進(jìn)而得到zeta>電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測量不同濃度中測量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

主要技術(shù)指標(biāo)與性能

  • Zeta電位測試

測試范圍

-500mv ~ 500mv

粒度范圍

1nm-9500nm(與樣品有關(guān))

樣品池容積

400μl

測試原理

ELS(電泳光散射)

散射角

15 度

 大濃度

 40% w/v

相關(guān)器

1000通道線性相關(guān)器

電導(dǎo)率范圍

200 mS/cm
  • 粒度分布測試

粒度測試范圍

1-9500nm(與樣品有關(guān))

測試原理

DLS( 動態(tài)光散射)

重復(fù)性誤差

≤1%(國標(biāo)樣D50 偏差)

相關(guān)器

1000 個物理通道

性誤差

≤1%(國標(biāo)樣D50 偏差)

光源

固體激光器

樣品池容積

1ml / 4ml

激光器波長

671nm

樣品池溫控范圍

15℃—90℃

激光器功率

50mW

溫控精度

±0.2℃

散射角

90 度

  • 分子量測試 

分子量范圍

1000Da—2x107Da

性誤差

≤ 10%

測試原理

SLS(靜態(tài)光散射)

重復(fù)性誤差

≤ 5%

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀主要應(yīng)用領(lǐng)域:

包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

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